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日本KITA半导体PCB 检查的弹簧探针高负荷型 K100 系列具有更长的行程和更高的负载，使其*适合于安装板检查。 间距从 1mm 到 2.54mm 不等，对于每个间距，您不仅可以选择柱塞*端形状，还可以选择负载。您可以选择*适合您需求的型号。 专为半导体测试中大电流、高机械应力场景优化，适用于严苛环境下的PCB功能测试、功率模块验证及老化测试。

日本KITA半导体PCB 检查的弹簧探针高负荷型 K075 与标准型相比，该弹簧探针系列具有更长的行程和更高的负载 使其*适合于安装板检查。间距从 1mm 到 2.54mm 不等，对于每个间距 您不仅可以选择柱塞*端形状，还可以选择负载。您可以选择*适合您需求的型号。

日本KITA半导体PCB 检查的弹簧探针高负荷型 KITA K050 是介于微型化与高负载之间的 平衡型弹簧探针 以 0.50mm针径 和 500-800gf接触压力 为核心特点，适用于需要 中等密度排布 且 兼顾电流承载能力 的半导体测试场景。

日本KITA半导体PCB 检查的弹簧探针高负荷型K039与标准型相比，该弹簧探针系列具有更长的行程和更高的负载. 使其适合于安装板检查。间距从 1mm 到 2.54mm 不等，对于每个间距，您不仅可以选择柱塞*形状，还可以选择负载。 KITA K039 是一款微型高负荷弹簧探针，专为半导体PCB测试中的 高密度、高精度接触需求 设计.

日本KITA 半导体PCB 检查的弹簧探针标准型K-026-2CAK2系列是KITA公司针对PCB（印刷电路板）测试（如ICT、FCT）设计的标准弹簧探针（Test Probe）. 以高耐久性、稳定接触电阻和紧凑结构为特点，广泛应用于电子制造领域的测试环节。

日本KITA半导体器件弹簧探针高频KPS040-004CA适用于0.5mm和0.8mm间距的高频产物。 1.5 毫米（使用时为 1.1 毫米）的短长度可通过短路径长度实现低损耗。 采用高导电材料（如镀金铜合金）减少信号传输损耗，确保高频信号的完整性。

日本KITA半导体器件弹簧探针大电流、高温是弹簧探头耐高温200°C，在高温、大电流测试环境中表现出色。 其产物尤其擅长应对大电流和高温环境，适用于半导体器件测试、晶圆测试、封装测试等严苛场景。

日本KITA半导体器件弹簧探针非磁性是该弹簧探头由非磁性材料制成，可用于必须消除磁性影响的测试环境。 适用于磁敏感环境（如MRI设备、高精度传感器测试）或避免磁化污染的半导体测试。

日本KITA半导体器件弹簧探针开尔文接触（4 端子连接）适用于高精度测试中使用的 4 端测量的弹簧探头。 使两个探针与半导体器件的一个端子接触。探头间距有 0.3、0.4、0.5mm 三种可选。

日本KITA半导体器件弹簧探针细间距（0.15~0.25mm间距）应用中扮演着关键角色. 主要用于高密度互连测试（如晶圆测试、芯片测试、PCB测试等） 弹簧探针内置于 IC 插座中，作为将被测设备垂直连接到电路板的电路。实现了低阻力、高耐久性。